Tektronix 技術探索日｜高速介面訊號量測實戰Demo
03-10
如何準確量測並解析高速訊號行為，往往是Debug 與 Validation 的關鍵，而且當多高速介面共存時，訊號互相干擾，導致量測結果被雜訊影響，難以還原真實訊號。 本次活動將以 Tektronix 高效能示波器 全新 7 系列 DPO 進行高速訊號的現場示範，涵蓋 PCIe 4、USB4 及 MIPI D‑PHY / C‑PHY 的實際量測與分析，帶您以真實訊號深
如何準確量測並解析高速訊號行為，往往是Debug 與 Validation 的關鍵，而且當多高速介面共存時，訊號互相干擾，導致量測結果被雜訊影響，難以還原真實訊號。 本次活動將以 Tektronix 高效能示波器 全新 7 系列 DPO 進行高速訊號的現場示範，涵蓋 PCIe 4、USB4 及 MIPI D‑PHY / C‑PHY 的實際量測與分析，帶您以真實訊號深
驗證工程師、生產測試工程師和系統整合商經常會開發自動化測試設備 (ATE) 系統，用以測試電晶體、二極體、MOSFET 和 ASIC 等半導體裝置。自動化測試對於識別缺陷、驗證效能及確保品質非常重要，特別是在半導體、航太與國防等對可靠性要求極高的產業中更是如此。Tektronix MP5000 系列模組化精密測試系統提供了一個靈活且具擴
隨著 CPU、GPU、加速器與交換器的創新快速發展，超大規模資料中心的介面如今需要在運算與記憶體之間，以及系統連上網路時，提供更高速的資料傳輸。PCI Express（PCIe®）做為這些互連的主幹，也被用來建構像是 Compute Express Link（CXL™）與 Universal Chiplet Interconnect Express（UCIe™）等協定。 CXL 的資源共享能
電容-電壓 (C-V) 測試是一種多功能且廣泛使用的半導體參數分析方法。此方法能測定關鍵特性，例如摻雜濃度與分布、載子壽命、氧化層厚度、界面陷阱密度等。 本 C-V 測試應用指南彙整了完整的應用說明，概述了使用 4200A-SCS 參數分析儀進行 C-V 量測的高階方法與技術。立即下載，探索半導體特性分析的有效解決方案。立即下載
我們製作了一份實用的參考指南，帶領您瞭解所有必備知識，包括 DPT (雙脈衝測試) 的定義、用途，以及如何正確設定以獲得準確且具可重複性的結果。 內容包含：詳細的測試設定指南，展示建議的設備與探棒關鍵量測指標，如開通與關斷能量損耗 (Eon 和 Eoff) (Eon 與 Eoff) 以及逆向回復適用標準摘要專家提示，有助您避開常見誤
