【免費課程】精密量測與半導體測試實戰課程
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當測試系統日益複雜，任何不正確的儀器設定、探棒選擇或量測流程，都可能造成判讀誤差、增加除錯時間，甚至影響產品開發進度。建立扎實的量測基礎，正是提升測試效率與研發品質的重要關鍵。數位量測學習中心於 2026 年 11 月在新竹推出年度最終系列課程，由 Tektronix 專業團隊帶領，從核心原理到實務操作，協助工程師建立正
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線上新品發表會｜11 月 10 日（星期二）｜上午 10:00（PST）誠摯邀請您參加由 Tektronix 全球總部現場直播的最新創新產品發表會。搶先了解我們的最新技術突破與未來發展方向，第一時間掌握下一代測試與量測解決方案。立即報名，一起搶先看見未來。立即報名
低電阻量測是監測電阻隨時間變化的可靠方法，可有效發現因熱效應、材料疲勞或腐蝕所導致的性能劣化。當搭配大電流進行量測時，此技術廣泛應用於高功率電阻器、斷路器、開關、匯流排（Bus Bar）、電纜、連接器及其他電阻元件的性能評估。瞭解 Keithley Model 2460 SourceMeter® SMU 如何協助您簡化測試架構、降低程式開發工
在某些半導體應用中，例如功率元件測試，或為了降低直流（DC）量測所造成的自熱效應，通常需要進行高速 I-V 脈衝量測。Segment Arb 功能可讓使用者在可靠度循環測試期間，以交流（AC）訊號對元件進行應力測試；同時也能產生多階電平波形模式，用於記憶體元件的程式化（Program）與抹除（Erase）操作。下載本技術應用文章，深
當 AI 資料中心朝更高頻寬與更高功率密度發展，工程師面對的挑戰，也從系統架構延伸至光源、封裝、電源模組與功率元件：CPO 的光電整合有哪些技術瓶頸？CPO 多通道光源與 EML 短脈衝測試，各有哪些量測挑戰？800 V HVDC 供電架構下，又該如何驗證電源完整性與 SiC／GaN 高速開關特性？太克科技誠摯邀請您參加 11 月 5 日於新
